电子元器件失效分析

针对IC、电容、电阻、二极管等电子元器件的开路、短路、烧毁、参数漂移等失效，深圳晟安检测提供专业分析服务。我们运用开封、EMMI、SEM等技术，定位失效点与机理，提升元器件可靠性。

2026年1月12日 失效分析